ホール効果測定システム
自動ホール効果測定システム
マイクロプローブの精度とHDTV顕微鏡観察により、キャリア濃度、移動度、抵抗率、ホール係数を測定する自動ホール効果システムです。
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次の発見を支える精密機器とシステム。
ホール効果測定システム
マイクロプローブの精度とHDTV顕微鏡観察により、キャリア濃度、移動度、抵抗率、ホール係数を測定する自動ホール効果システムです。
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CMT-100 は、高度な構成部品により半導体材料を分析する、正確なホール効果測定を提供します。
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CMT-1000Hは高温でのホール効果分析用に設計され、真空チャンバー、ガウスメーター、温度制御、磁石システムを統合しています。
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CMT - 1000Lは、デュワー容器、磁石、精密電子機器を統合し、極低温でのキャリア移動度分析に向けた低温ホール効果試験を可能にします。
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CMT-1000Tは、磁石、ガウスメーター、デュワー容器、精密温度制御を統合し、高温・低温でのホール効果試験を可能にします。
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CMT - 30 は永久磁石構成による正確なホール効果測定を提供し、基本的な磁場試験やセンサー評価に適しています。
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CMT - 3000は、ホール効果、磁気抵抗、I - V曲線の測定を統合した自動システムで、高度な半導体材料の特性評価に対応します。
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CMT - 50は、半導体研究におけるホール効果と抵抗率の正確な分析を可能にし、安定した性能と信頼性の高い測定結果を提供します。
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CMT-60は、コンパクトな設計でホール効果とキャリア移動度を精密に測定。研究開発ラボの卓上用途に最適です。
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半導体研究および材料分析において、キャリア移動度、抵抗率、ホール係数を測定する高精度システム。
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可変温度下でキャリアの遷移、磁気抵抗、導電率を研究するためのコンパクトなホール効果測定装置。
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ホール効果測定システム
ホール効果、磁気抵抗、温度依存抵抗、I - V測定を統合し、電気輸送特性を総合的に評価するシステムです。
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