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Vectomag

CMT-50 標準ホール効果測定システム

CMT - 50は、半導体研究におけるホール効果と抵抗率の正確な分析を可能にし、安定した性能と信頼性の高い測定結果を提供します。

CMT-50 Standard Hall Effect Measurement System 原寸画像を見る

製品概要

VectomagのCMT-50標準ホール効果測定システムは、半導体材料の電気輸送特性を評価するための高精度装置です。材料研究と品質管理に不可欠なキャリア濃度、移動度、抵抗率、ホール係数などの重要なパラメータを正確に測定します。

ホール測定システムで測定可能な試料:

CMT-50標準ホール効果測定システムの試料ステージ

システム構成要素

CMT-50システムの構成:

  • 電磁石 – ホール効果実験用の安定した磁場を発生します。
  • 電磁石電源 – 精密な磁場制御を確保します。
  • 高精度定電流源 – 正確な測定のための安定した電流を提供します。
  • 高精度電圧計 – ノイズ干渉を最小限に抑えて電圧信号を取得します。
  • ホール効果試料ホルダー – 多様な試料形式に対応し、柔軟な試験を可能にします。
  • 標準試料 – 基準測定用に事前校正済み。
  • システムソフトウェア – 自動制御、データ収集、解析を実現します。

測定機能

CMT-50により、研究者は次のことが可能です:

  • 半導体材料のキャリア濃度を求めます。
  • 性能評価のためのキャリア移動度を測定します。
  • 抵抗率を解析して電気伝導を評価。
  • 材料特性評価のためのホール係数を計算します。
  • 温度依存・磁場依存の測定を行います(オプションモジュールを選択可能)。

CMT-320 ホール効果メーター

CMT-50システムとのシームレスな統合に特化して設計されたCMT-320ホール効果測定器は、高精度定電流源、6½桁マイクロボルトメーター、ホール効果測定用切替リレーをコンパクトな1台に統合しています。

この一体型設計は配線の複雑さを最小限に抑え、実験操作を簡素化することで、セットアップを迅速化し、測定の安定性を向上させます。

ホール効果測定システム内での使用に加え、CMT-320 は以下の機器として単独で動作できます:

  • 一般的な実験室用途向けの定電流源。
  • 超低電圧測定用のマイクロボルトメーター。

2つの機能を備えたCMT-320は、専用のホール効果解析と、より広範な電気試験の両方に対応する汎用ツールです。

ホール効果測定システムのパラメータ:

物理パラメーターキャリア濃度10³cm⁻³ - 10²³cm⁻³
移動度0 .1 cm²/ volt*sec - 10⁸cm²/ volt*sec
抵抗率範囲10⁻⁷ Ohm*cm - 10¹² Ohm*cm
ホール電圧1 uV - 3V
ホール係数10⁻⁵ - 10²⁷cm³/ C
測定可能な材料の種類半導体材料SiGe、SiC、InAs、InGaAs、InP、AlGaAs、HgCdTe、フェライト材料など。
低抵抗材料グラフェン、金属、透明酸化物、弱磁性半導体材料、TMR 材料など
高抵抗材料半絶縁性GaAs、GaN、CdTeなど
材料の導電性粒子材料の P 型および N 型試験
磁場環境磁石タイプ可変電磁石
磁場の大きさ1070mT(磁極間隔10mm)
687mT(磁極間隔20mm)
500mT(磁極間隔 30mm)
378mT(磁極間隔40mm)
293mT(磁極間隔50mm)
均一領域1%
オプション磁場環境お客様の要望に応じた磁場規模の電磁石をカスタマイズできます
電気パラメータ電流源50.00nA- 50.00mA
電流源分解能0.0001uA
測定電圧0 ~ ±3V
電圧測定分解能0.0001 mV
その他の付属品遮光外部に取り付けた遮光部品により試験材料をより安定化
試料サイズ最大30mm * 30mm
ボックスキャビネット600*600*1000mm
試験片中国科学院半導体研究所のホール効果標準試験試料とデータ:1セット
(GaAs, ITO)
オーミック接触の形成電気はんだごて、インジウム片、はんだ、エナメル線など
試験開始後に人の操作を必要としない、ワンボタン自動測定が可能です
ソフトウェアはI-V曲線とBV曲線に対応します
ソフトウェアで自動温度測定を設定
実験結果を測定し、データをソフトウェア内に一時保存します。長期保存が必要な場合は、EXCEL表に出力して後のデータ処理に利用できます。
中国科学院半導体研究所のホール効果標準試験試料とデータを提供:1セット

価格・納期

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