CMT-1000H 高温ホール効果測定システム

CMT-1000H高温ホール効果測定システムは、高温での半導体・材料研究向けに設計されています。高精度電磁石、定電流源、ガウスメーター、温度コントローラー、インテリジェントソフトウェアを統合し、正確なホール効果・抵抗率測定を実現します。

可変温度・磁場条件下でホール電圧、抵抗率、移動度、キャリア濃度の自動測定に対応します。高温真空チャンバーと自動データ処理により、先端材料研究のための信頼性の高いプラットフォームを提供します。

• ワンクリックデータ処理を備えた全自動ホール効果測定
• 高温測定能力：最大773 K（オプション）
• ホール試験用の定電流源と精密電圧測定
• 幅広い半導体材料・導電材料に対応
• I-V、I-R、ホールパラメーター曲線のリアルタイム描画
• 滑らかなゼロクロス切り替えを備えた4象限定電流電源
• 長期安定性のための均一磁場設計
• 精密な制御と解析のためのガウスメーター・データ収集の統合

• 半導体材料：SiGe、SiC、InAs、InGaAs、InP、AlGaAs、HgCdTe、フェライト材料
• 低インピーダンス材料：グラフェン、金属、透明酸化物、弱磁性半導体、TMR材料
• 高抵抗材料：半絶縁性 GaAs、GaN、CdTe

• ホール効果・抵抗率の自動計算
• リアルタイム曲線描画：I-V、I-R、R-T、ホール係数の変化
• 一定の温度間隔での連続測定
• ガウスメーター、電源、温度コントローラーとのデータ通信
• 解析・報告用にエクスポート可能なデータ

• 磁極直径：100 mm
• 最大磁場：20,000 Gs（間隔 10 mm）、13,000 Gs（間隔 20 mm）、10,000 Gs（間隔 30 mm）
• 均一性：±1%（間隔 60 mm で直径 10 mm）
• 重量：110 kg（ブラケットと車輪を含む）

• 出力：±10 A / ±80 V、800 W
• 切替なしの滑らかなゼロクロスと反転
• 4象限動作（誘導性負荷に適合）
• 電流変化率：0.0007 – 0.3 F.S./s
• 安定性：±25 ppm/h（標準）、±5 ppm/h（高安定性）
• 精度：±(設定値の0.01% + 1 mA)
• 分解能：20-bit（例：15 A で 0.03 mA）
• リップル (RMS)：<1 mA

• 精度：読み値の±0.30%
• 範囲：0–3 T、分解能 0.01 mT
• プローブ：厚さ1.0 mm、長さ100 mm
• RS-232 インターフェース、GP3 プローブ付属
• 調整可能な非磁性アルミ製プローブホルダー（5–70 mm）
• カスタマイズ可能な試料ホルダー治具

• 真空チャンバー：293 K – 470 K
• TESK301コントローラー（65 K – 600 K）
• K25真空ポンプ

• 電流範囲：±50 nA – ±50 mA、分解能0.1 nA
• 電圧範囲：0.1 μV – 30 V、精度0.01%
• 内蔵試験マトリックス変換カード
• オーミック接触キット（材料別にカスタマイズ可能）