자동 홀 효과 측정 시스템
마이크로 프로브의 정밀도와 HDTV 현미경을 활용하여 캐리어 농도, 이동도, 비저항 및 홀 계수를 측정하는 자동 홀 효과 시스템입니다.
제품 보기Vectomag의 CMT-50 표준 홀 효과 측정 시스템은 반도체 재료의 전기 수송 특성을 평가하도록 설계된 고정밀 기기입니다. 재료 연구와 품질 관리에 필수적인 캐리어 농도, 이동도, 비저항 및 홀 계수 등의 주요 매개변수를 정확하게 측정합니다.


CMT-50 표준 홀 효과 측정 시스템의 시료 스테이지
CMT-50 시스템 구성:
CMT-50을 통해 연구자는 다음 작업을 수행할 수 있습니다:

CMT-50 시스템과의 원활한 통합을 위해 특별히 설계된 CMT-320 홀 효과 측정기는 고정밀 정전류원, 6½자리 마이크로볼트미터 및 홀 효과 측정용 전환 릴레이를 하나의 소형 유닛에 결합했습니다.
이 통합 설계는 배선 복잡성을 최소화하고 실험 조작을 단순화하여 더 빠른 설정과 향상된 측정 안정성을 제공합니다.
홀 효과 측정 시스템 내에서의 역할 외에도 CMT-320은 다음 기기로 독립적으로 작동할 수 있습니다:
이중 기능을 갖춘 CMT-320은 전용 홀 효과 분석과 더 광범위한 전기 시험 요구에 모두 대응하는 다용도 도구입니다.
| 물리 매개변수 | 캐리어 농도 | 10³cm⁻³ - 10²³cm⁻³ |
| 이동도 | 0 .1 cm²/ volt*sec - 10⁸cm²/ volt*sec | |
| 비저항 범위 | 10⁻⁷ Ohm*cm - 10¹² Ohm*cm | |
| 홀 전압 | 1 uV - 3V | |
| 홀 계수 | 10⁻⁵ - 10²⁷cm³/ C | |
| 시험 가능한 재료 유형 | 반도체 재료 | SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 및 페라이트 재료 등. |
| 저저항 재료 | 그래핀, 금속, 투명 산화물, 약자성 반도체 재료, TMR 재료 등 | |
| 고저항 재료 | 반절연성 GaAs, GaN, CdTe 등 | |
| 재료의 전도성 입자 | 재료의 P형 및 N형 시험 | |
| 자기장 환경 | 자석 유형 | 가변 전자석 |
| 자기장 크기 | 1070mT(자극 간격 10mm) | |
| 687mT(자극 간격 20mm) | ||
| 500mT (자극 간격 30mm) | ||
| 378mT (자극 간격 40mm) | ||
| 293mT(자극 간격 50mm) | ||
| 균일 영역 | 1% | |
| 선택 사양 자기 환경 | 고객 요구에 따라 해당 자기 규모의 전자석을 맞춤 제작할 수 있습니다 | |
| 전기 파라미터 | 전류원 | 50.00nA- 50.00mA |
| 전류원 분해능 | 0.0001uA | |
| 측정 전압 | 0 ~ ±3V | |
| 전압 측정 분해능 | 0.0001 mV | |
| 기타 액세서리 | 차광 | 외부 장착 차광 부품이 시험 재료를 더 안정적으로 유지 |
| 시료 크기 | 최대 30mm * 30mm | |
| 박스 캐비닛 | 600*600*1000mm | |
| 시험편 | 중국과학원 반도체연구소 홀 효과 표준 시험 시료 및 데이터: 1세트 | |
| (GaAs, ITO) | ||
| 오믹 접촉 형성 | 전기 인두, 인듐 조각, 납땜 재료, 에나멜선 등 | |
| 시험 시작 후 사람의 조작 없이 원버튼 자동 측정 가능 | ||
| 소프트웨어는 I-V 곡선 및 BV 곡선을 수행할 수 있습니다 | ||
| 소프트웨어에서 자동 온도 측정 설정 | ||
| 실험 결과를 측정하고 데이터를 소프트웨어에 임시 저장합니다. 장기 저장이 필요한 경우 EXCEL 표로 내보내 이후 데이터 처리를 편리하게 할 수 있습니다. | ||
| 중국과학원 반도체연구소의 홀 효과 표준 시험 시료 및 데이터 제공: 1세트 | ||
가격 및 공급 가능 여부
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