CMT-100 고정밀 홀 효과 측정 시스템

Name: CMT-100 고정밀 홀 효과 측정 시스템
Brand: Vectomag

CMT-100은 반도체 재료 분석을 위한 첨단 구성 요소로 정확한 홀 효과 측정을 제공합니다.

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CMT-100 High-Precision Hall Effect Measurement System

제품 소개

CMT-100 고정밀 홀 효과 측정 시스템은 캐리어 농도, 이동도, 비저항 및 홀 계수 등 반도체 재료의 주요 전기적 매개변수를 정확하게 측정하도록 설계되었습니다. 이러한 매개변수는 반도체 소자와 재료의 전기적 거동을 평가하는 데 핵심적이므로, 홀 효과 측정 시스템은 첨단 반도체 연구, 소자 특성 평가 및 재료 과학 연구에 필수적인 도구입니다.

이 시스템은 다양한 반도체 응용 분야의 개발, 품질 관리 및 성능 분석을 지원하는 정밀하고 신뢰성 높은 데이터를 제공합니다.

주요 특징

캐리어 농도, 이동도, 비저항 및 홀 계수의 정확한 측정
반도체 소자, 박막 및 벌크 재료 분석에 적합
안정적인 성능을 위한 정전류원 및 마이크로볼트미터 통합
다채널 스위칭 기능을 갖춘 유연한 시스템 구성
사용자 친화적 소프트웨어 인터페이스를 갖춘 자동 측정 과정
연구 실험실, 품질 관리 및 반도체 소자 개발에 적합

일반적인 응용

반도체 재료 특성 평가
전자 소자 성능 분석
박막 홀 측정
자기 수송 연구 및 시험
교육 시연 및 학술 연구 프로젝트

홀 효과 측정의 시험 가능한 시료:

통합형 CMT-320 시스템 소스미터

CMT-100 홀 효과 측정 시스템용으로 특별히 개발된 CMT-320 시스템 소스미터는 고안정성 정전류원, 저노이즈 마이크로볼트미터 및 다중 채널 전환 릴레이를 소형 장치에 통합합니다. 이 통합 설계는 실험 배선과 조작을 크게 단순화하여 안정적이고 정확한 측정 성능을 보장합니다.

CMT-320 소스미터는 정전류원과 마이크로볼트미터로 독립 사용도 가능하여 다양한 시험 요구에 유연하게 대응합니다.

CMT-100 고정밀 홀 효과 측정 시스템 매개변수:

물리 매개변수	캐리어 농도	10³cm⁻³ - 10²³cm⁻³
	이동도	0 .1 cm²/ voltsec - 10⁸cm²/ voltsec
	비저항 범위	10⁻⁷ Ohmcm - 10¹² Ohmcm
	홀 전압	1 uV - 3V
	홀 계수	10⁻⁵ - 10²⁷cm³/ C
시험 가능한 재료 유형	반도체 재료	SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 및 페라이트 재료 등.
	저저항 재료	그래핀, 금속, 투명 산화물, 약자성 반도체 재료, TMR 재료 등
	고저항 재료	반절연성 GaAs, GaN, CdTe 등
	재료의 전도성 입자	재료의 P형 및 N형 시험
자기장 환경	자석 유형	가변 전자석
	자기장 크기	1900mT (자극 간격 10mm)
		1300mT (자극 간격 20mm)
		900mT (자극 간격 30mm)
		800mT(자극 간격 40mm)
		600mT (자극 간격 50mm)
	균일 영역: 1%	최소 분해능: 0.1Gs
	선택 사양 자기 환경	고객 요구에 따라 해당 자기 규모의 전자석을 맞춤 제작할 수 있습니다
전기 파라미터	전류원	50.00nA- 50.00mA
	전류원 분해능	0.0001uA
	측정 전압	0 ~ ±3V
	전압 측정 분해능	0.0001 mV
기타 액세서리	차광	외부 설치 차광 부품은 시험 재료를 더 안정적으로 유지합니다
	시료 크기	일반 10mm * 10mm
	시료 크기	최대 16mm * 16mm
	박스 캐비닛	6006001000mm
	시험편	중국과학원 반도체연구소의 홀 효과 표준 시험 시료 및 데이터: 1세트
	시험편	(Si, Ge, GaAs, lnSb)
	오믹 접촉 형성	전기 인두, 인듐 조각, 납땜 재료, 에나멜선 등
시험 시작 후 사람의 조작 없이 원버튼 자동 측정 가능
소프트웨어는 I-V 곡선 및 BV 곡선을 수행할 수 있습니다
소프트웨어에서 자동 온도 측정 설정
실험 결과를 측정하고 데이터를 소프트웨어에 임시 저장합니다. 장기 저장이 필요한 경우 EXCEL 표로 내보내 이후 데이터 처리를 편리하게 할 수 있습니다.
중국과학원 반도체연구소의 홀 효과 표준 시험 시료 및 데이터 제공: 1세트

홀 효과 측정 장비의 고온 및 저온 선택 사양

시스템 모델	시험 온도 구간	시스템 시험 지표
CMT-100 고온 및 저온 홀 효과 시험 시스템	80K ~ 500K (고온 및 저온, 온도 조절 0.1K)	최소 분해능: 0.1GS 시료 전류: 0.05uA～50mA(조정 0.1nA) 자기장: 간격 10mm에서 2T; 간격 30mm에서 1T 비저항 범위: 10-5～107 Ohmcm 캐리어 농도: 103～1023cm-3 이동도: 0.1～108cm2/voltsec 저항 범위: 10m Ohms～6MOhms
DX-100H 고온 홀 효과 시험 시스템	300K ～ 500K (고온, 온도 조정 0.1K)
CMT-100L 저온 홀 효과 시험 시스템	80K ～ 300K (저온, 온도 조정 0.1K)
CMT-200L 저온 홀 효과 시험 시스템	4K ～ 300K (저온, 온도 조정 0.1K)
CMT-500 고온·저온 홀 효과 시험 시스템	80K ~ 800K (고온 및 저온, 온도 조절 0.1K)
CMT-500H 고온 홀 효과 시험 시스템	300 K ~ 800 K (고온, 온도 조정 0.1K)