Высокоточная система измерения эффекта Холла CMT-100

Name: Высокоточная система измерения эффекта Холла CMT-100
Brand: Vectomag

CMT-100 обеспечивает точное измерение эффекта Холла с передовыми компонентами для анализа полупроводниковых материалов.

Запросить предложение ↗ Посмотреть характеристики ↓

CMT-100 High-Precision Hall Effect Measurement System

Введение в продукт

Высокоточная система измерения эффекта Холла CMT-100 предназначена для точного измерения ключевых электрических параметров полупроводниковых материалов, включая концентрацию носителей заряда, подвижность, удельное сопротивление и коэффициент Холла. Эти параметры необходимы для оценки электрического поведения полупроводниковых устройств и материалов, поэтому система измерения эффекта Холла является важнейшим инструментом для передовых исследований полупроводников, определения характеристик устройств и исследований в области материаловедения.

Система предоставляет точные и надёжные данные для разработки, контроля качества и анализа характеристик различных полупроводниковых применений.

Основные особенности

Точное измерение концентрации носителей, подвижности, удельного сопротивления и коэффициента Холла
Подходит для анализа полупроводниковых устройств, тонких плёнок и объёмных материалов
Встроенные источник постоянного тока и микровольтметр для стабильной работы
Гибкая конфигурация системы с многоканальной коммутацией
Автоматизированный процесс измерений с удобным программным интерфейсом
Подходит для исследовательских лабораторий, контроля качества и разработки полупроводниковых устройств

Типичные области применения

Характеризация полупроводниковых материалов
Анализ характеристик электронных устройств
Измерения Холла в тонких плёнках
Исследования и испытания магнитотранспорта
Учебные демонстрации и академические исследовательские проекты

Испытуемые образцы для измерения эффекта Холла:

Интегрированный системный источникомер CMT-320

Системный источник-измеритель CMT-320, специально разработанный для системы измерения эффекта Холла CMT-100, объединяет высокостабильный источник постоянного тока, малошумящий микровольтметр и многоканальное переключающее реле в компактном блоке. Такая интегрированная конструкция значительно упрощает экспериментальные соединения и работу, обеспечивая стабильные и точные измерения.

Источник-измеритель CMT-320 также можно использовать самостоятельно в качестве источника постоянного тока и микровольтметра, что обеспечивает гибкость при решении широкого круга испытательных задач.

Параметры высокоточной системы измерения эффекта Холла CMT-100:

Физические параметры	Концентрация носителей	10³cm⁻³ - 10²³cm⁻³
	Подвижность	0 .1 cm²/ voltsec - 10⁸cm²/ voltsec
	Диапазон удельного сопротивления	10⁻⁷ Ohmcm - 10¹² Ohmcm
	Напряжение Холла	1 uV - 3V
	Коэффициент Холла	10⁻⁵ - 10²⁷cm³/ C
Типы материалов для испытаний	Полупроводниковый материал	SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe и ферритовые материалы и др.
	материал с низким сопротивлением	Графен, металлы, прозрачные оксиды, слабомагнитные полупроводниковые материалы, материалы TMR и т. д.
	высокоомный материал	Полуизолирующие GaAs, GaN, CdTe и др.
	Проводящие частицы материалов	Испытания материалов типа P и типа N
Среда магнитного поля	Тип магнита	Регулируемый электромагнит
	Величина магнитного поля	1900mT (расстояние между полюсами 10mm)
		1300mT (расстояние между полюсами 20mm)
		900mT (расстояние между полюсами 30mm)
		800mT (расстояние между полюсами 40mm)
		600mT (расстояние между полюсами 50mm)
	Однородная область: 1%	Минимальное разрешение: 0.1Gs
	Опциональная магнитная среда	Электромагнит соответствующего магнитного размера может быть изготовлен по потребностям заказчика
Электрические параметры	Источник тока	50.00nA- 50.00mA
	Разрешение источника тока	0.0001uA
	Измеряемое напряжение	0 ~ ±3V
	Разрешение измерения напряжения	0.0001 mV
Другие принадлежности	Светозащита	Внешние светозащитные элементы повышают стабильность испытуемого материала
	Размер образца	стандартно 10mm * 10mm
	Размер образца	Максимум 16mm * 16mm
	Корпус-шкаф	6006001000mm
	Испытуемый образец	Стандартные образцы и данные испытаний эффекта Холла Института полупроводников Китайской академии наук: 1 комплект
	Испытуемый образец	(Si, Ge, GaAs, lnSb)
	Создание омических контактов	Электрический паяльник, пластинка индия, припой, эмалированный провод и др.
Автоматическое измерение одной кнопкой без вмешательства оператора после начала испытания
ПО позволяет работать с кривыми I-V и BV
Настройка автоматического измерения температуры в ПО
Результаты экспериментов измеряются, а данные временно сохраняются в ПО. Для длительного хранения их можно экспортировать в таблицу EXCEL, чтобы упростить дальнейшую обработку.
Предоставляются стандартные образцы и данные измерения эффекта Холла Института полупроводников Китайской академии наук: 1 комплект

Выбор высоких и низких температур для оборудования измерения эффекта Холла

Модель системы	Температурная область испытаний	Показатели испытаний системы
Система испытаний эффекта Холла CMT-100 при высоких и низких температурах	80K ~ 500K (высокие и низкие температуры, регулировка температуры 0.1K)	Минимальное разрешение: 0.1GS Ток образца: 0.05uA～50mA (регулировка 0.1nA) Магнитное поле: 2T при расстоянии 10mm; 1T при расстоянии 30mm Диапазон удельного сопротивления: 10-5～107 Ohmcm Концентрация носителей: 103～1023cm-3 Подвижность: 0.1～108cm2/voltsec Диапазон сопротивления: 10m Ohms～6MOhms
Высокотемпературная система измерения эффекта Холла DX-100H	300K ～ 500K (высокая температура, регулировка температуры 0.1K)
Низкотемпературная система испытаний эффекта Холла CMT-100L	80K ～ 300K (низкая температура, регулировка температуры 0.1K)
CMT-200L Низкотемпературная система испытаний эффекта Холла	4K ～ 300K (низкая температура, регулировка температуры 0.1K)
CMT-500 Система испытаний эффекта Холла при высоких и низких температурах	80K ~ 800K (высокие и низкие температуры, регулировка температуры 0.1K)
Высокотемпературная система испытаний эффекта Холла CMT-500H	300 K ~ 800 K (высокая температура, регулировка температуры 0.1K)