CMT-1000L 저온 홀 효과 시험 시스템

CMT-1000L 저온 홀 효과 시험 시스템은 저온 조건에서 반도체의 전기적 특성을 정밀하게 측정하도록 설계되었습니다. 캐리어 농도, 이동도, 비저항 및 홀 계수와 같은 핵심 매개변수를 측정하여 반도체의 거동에 대한 필수 정보를 제공합니다.

자동 데이터 수집 및 분석으로 복잡한 절차를 간소화하고 신뢰성 높은 결과를 보장합니다. 반도체 소자와 재료 수송 특성을 연구하는 연구자에게 필수적인 플랫폼입니다.

• 캐리어 농도, 이동도, 비저항, 홀 계수 및 자기저항 자동 계산
• 효율적인 홀 측정을 위해 정전류원, 고해상도 마이크로볼트미터 및 전환 릴레이를 결합한 통합 CMT-320 Effector
• 비저항, 저항 및 캐리어 농도의 넓은 측정 범위
• 저온 응용 분야용 크라이오스탯 기반 온도 제어
• 원버튼 조작 완전 자동 측정
• EXCEL 후처리용 데이터 시각화 및 내보내기 기능

• 반도체 재료: SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe, 페라이트 재료
• 저임피던스 재료: 그래핀, 금속, 투명 산화물, 약자성 반도체, TMR 재료
• 고저항 재료: 반절연성 GaAs, GaN, CdTe

• 원버튼 자동 측정 과정
• 시료 전류, 자기장 세기 및 온도 환경 제어
• 측정 전 빠른 온도 안정화(≈1분)
• 홀 매개변수 및 비저항 실시간 계산
• 추가 분석을 위한 곡선 작성 및 EXCEL 내보내기

• 자극 직경: 100 mm
• 최대 자기장: 공극 10 mm에서 20,000 Gs 공극 20 mm에서 13,000 Gs 공극 30 mm에서 10,000 Gs
• 균일 영역: 60 mm 간격에서 직경 10 mm, ±1% 균일도
• 중량: 110 kg (브래킷 및 바퀴 포함)

• 출력: ±10 A / ±80 V, 800 W
• 스위칭 전환 없는 부드러운 영점 통과
• 유도성 부하에 적합한 4사분면 작동
• 전류 변화율 조절: 0.0007 – 0.3 F.S./s
• 안정성: ±25 ppm/h(표준), ±5 ppm/h(고안정성)
• 정확도: ±(설정값의 0.01% + 1 mA)
• 분해능: 20-bit (예: 15 A에서 0.03 mA)
• 리플 (RMS): <1 mA

• 정확도: 판독값의 ±0.30%
• 범위: 0 – 3 T, 분해능: 0.01 mT
• 프로브: 두께 1.0 mm, 길이 100 mm
• GP3 프로브가 있는 RS-232 인터페이스
• 조절 가능한 비자성 알루미늄 프로브 홀더(5–70 mm)

• 온도 범위: 80 K – 293 K
• DX301 항온조 컨트롤러 (65 K – 600 K)
• K25 진공 펌프

• 전류 범위: ±50 nA – ±50 mA, 분해능 0.1 nA
• 전압 측정: 0.1 μV – 30 V, 정확도 0.01%
• 내장 시험 매트릭스 변환 카드
• 다양한 재료용 맞춤 오믹 접촉 키트