Vectomag
CMT-60 обеспечивает точные измерения эффекта Холла и подвижности носителей в компактном исполнении, удобном для настольного использования в исследовательских лабораториях.
Открыть изображение
Компактный прибор измерения эффекта Холла CMT-60 предназначен для точной характеризации полупроводниковых материалов. Он обеспечивает точное измерение основных электрических параметров, таких как концентрация носителей, подвижность, удельное сопротивление и коэффициент Холла. Эти параметры необходимы для оценки и контроля электрических свойств полупроводников, поэтому CMT-60 служит мощным инструментом для исследований и контроля качества при разработке полупроводниковых устройств.
| Физические параметры | Концентрация носителей | 10³cm⁻³ - 10²³cm⁻³ |
| Подвижность | 0 .1 cm²/ volt*sec - 10⁸cm²/ volt*sec | |
| Диапазон удельного сопротивления | 10⁻⁷ Ohm*cm - 10¹² Ohm*cm | |
| Напряжение Холла | 1 uV - 3V | |
| Коэффициент Холла | 10⁻⁵ - 10²⁷cm³/ C | |
| Типы материалов для испытаний | Полупроводниковый материал | SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe и ферритовые материалы и др. |
| Материал с низким сопротивлением | Графен, металлы, прозрачные оксиды, слабомагнитные полупроводниковые материалы, материалы TMR и т. д. | |
| Материал с высоким сопротивлением | Полуизолирующие GaAs, GaN, CdTe и др. | |
| Проводящие частицы материалов | Испытания материалов типа P и типа N | |
| Среда магнитного поля | Тип магнита | Регулируемый электромагнит |
| Величина магнитного поля | Диаметр полюсной поверхности 50mm; 1.22T@10mm зазор, 0.74T@20mm зазор, 0.51T@30mm зазор | |
| Однородная область | 1% | |
| Опциональная магнитная среда | Электромагнит соответствующего магнитного размера может быть изготовлен по потребностям заказчика | |
| Электрические параметры | Источник тока | 50.00nA- 50.00mA |
| Разрешение источника тока | 0.0001uA | |
| Измеряемое напряжение | 0 ~ ±3V | |
| Разрешение измерения напряжения | 0.0001 mV | |
| Температурная среда | 80K-500K（точность управления температурой:0.1K） | |
| Другие принадлежности | Светозащита | Внешние светозащитные детали повышают стабильность испытуемого материала |
| Размер образца | Максимум 15mm * 15mm | |
| Корпус-шкаф | 600*600*1000mm | |
| Испытуемый образец | Стандартные образцы и данные испытаний эффекта Холла Института полупроводников Китайской академии наук: 1 комплект(GaAs, ITO) | |
| Создание омических контактов | Электрический паяльник, пластинка индия, припой, эмалированный провод и др. | |
| Автоматическое измерение одной кнопкой без вмешательства оператора после начала испытания | ||
| ПО позволяет работать с кривыми I-V и BV | ||
| Настройка автоматического измерения температуры в ПО | ||
| Экспериментальные результаты измеряются, а данные временно сохраняются в ПО. Для длительного хранения данные можно экспортировать в таблицу EXCEL, чтобы упростить дальнейшую обработку. | ||
| Предоставляются стандартные образцы и данные измерения эффекта Холла Института полупроводников Китайской академии наук: 1 комплект | ||
В систему CMT-60 входит измеритель эффекта Холла CMT-320, разработанный специально для этой приборной платформы.
Программное обеспечение системы обеспечивает автоматизированный сбор и анализ данных, поддерживая такие параметры, как:
ПО автоматически рассчитывает экспериментальные результаты, обеспечивая точность и повышая эффективность работы.
Другие продукты
Подберите приборы и системы для вашей лаборатории.
Автоматизированная система эффекта Холла измеряет концентрацию носителей, подвижность, удельное сопротивление и коэффициент Холла с точностью микрозонда и применением микроскопии H...
Посмотреть продукт
CMT-100 обеспечивает точное измерение эффекта Холла с передовыми компонентами для анализа полупроводниковых материалов.
Посмотреть продукт
CMT-1000H предназначена для анализа эффекта Холла при высоких температурах и объединяет вакуумную камеру, гауссметр, управление температурой и магнитную систему.
Посмотреть продуктСтоимость и наличие
Расскажите об образце, диапазоне измерений, точности и условиях работы. Укажите количество и место доставки.
Запросить предложение ↗