Sistema automatizado de medición del efecto Hall
Este sistema automatizado de efecto Hall mide concentración de portadores, movilidad, resistividad y coeficiente Hall con precisión de microsonda y microscopía HDTV.
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CMT-60 realiza ensayos precisos del efecto Hall y de movilidad de portadores en un formato compacto, ideal para uso de sobremesa en laboratorios de investigación y desarrollo.
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El instrumento compacto de medición del efecto Hall CMT-60 está diseñado para caracterizar con precisión materiales semiconductores. Proporciona mediciones exactas de parámetros eléctricos clave como la concentración de portadores, la movilidad, la resistividad y el coeficiente Hall. Estos parámetros son esenciales para evaluar y controlar las propiedades eléctricas de los semiconductores, lo que convierte al CMT-60 en una herramienta potente tanto para la investigación como para el control de calidad en el desarrollo de dispositivos semiconductores.
| Parámetros físicos | Concentración de portadores | 10³cm⁻³ - 10²³cm⁻³ |
| Movilidad | 0 .1 cm²/ volt*sec - 10⁸cm²/ volt*sec | |
| Rango de resistividad | 10⁻⁷ Ohm*cm - 10¹² Ohm*cm | |
| Tensión Hall | 1 uV - 3V | |
| Coeficiente Hall | 10⁻⁵ - 10²⁷cm³/ C | |
| Tipos de materiales que se pueden ensayar | Material semiconductor | SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe y materiales de ferrita, etc. |
| Material de baja resistencia | Grafeno, metales, óxidos transparentes, materiales semiconductores débilmente magnéticos, materiales TMR, etc. | |
| Material de alta resistencia | GaAs, GaN, CdTe, etc., semi aislantes | |
| Partículas conductoras de materiales | Ensayos de materiales de tipo P y tipo N | |
| Entorno de campo magnético | Tipo de imán | Electroimán variable |
| Magnitud del campo magnético | Diámetro de la cara polar 50mm; 1.22T@10mm de entrehierro, 0.74T@20mm de entrehierro, 0.51T@30mm de entrehierro | |
| Área uniforme | 1% | |
| Entorno magnético opcional | El electroimán con el tamaño magnético pertinente puede personalizarse según las necesidades del cliente | |
| Parámetros eléctricos | Fuente de corriente | 50.00nA- 50.00mA |
| Resolución de la fuente de corriente | 0.0001uA | |
| Tensión de medición | 0 ~ ±3V | |
| Resolución de medición de tensión | 0.0001 mV | |
| Entorno de temperatura | 80K-500K(precisión de control de temperatura:0.1K) | |
| Otros accesorios | Protección contra la luz | Las piezas externas de blindaje de luz estabilizan el material ensayado |
| Tamaño de la muestra | Máximo 15mm * 15mm | |
| Armario de caja | 600*600*1000mm | |
| Probeta | Muestras estándar y datos de ensayo del efecto Hall del Instituto de Semiconductores de la Academia China de Ciencias: 1 juego(GaAs, ITO) | |
| Creación de contactos óhmicos | Soldador eléctrico, lámina de indio, soldadura, hilo esmaltado, etc. | |
| Medición automática con un solo botón sin intervención manual una vez iniciado el ensayo | ||
| El software permite realizar curvas I-V y BV | ||
| Configuración en software de la medición automática de temperatura | ||
| Se miden los resultados experimentales y los datos se guardan temporalmente en el software. Si se necesita almacenamiento a largo plazo, los datos pueden exportarse a una tabla EXCEL para facilitar su procesamiento posterior. | ||
| Se proporcionan muestras y datos estándar de ensayo del efecto Hall del Instituto de Semiconductores de la Academia China de Ciencias: 1 conjunto | ||

El sistema CMT-60 incorpora el medidor del efecto Hall CMT-320, desarrollado específicamente para esta plataforma de instrumentación.
El software del sistema proporciona adquisición y análisis automatizados de datos y admite parámetros como:
El software calcula automáticamente los resultados experimentales, garantizando exactitud y mejorando la eficiencia del trabajo.
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