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CMT-60 소형 홀 효과 측정기

CMT-60은 소형 설계로 정밀한 홀 효과 및 캐리어 이동도 시험을 제공하며 연구 개발 실험실의 탁상형 용도에 적합합니다.

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1. 제품 개요

CMT-60 소형 홀 효과 측정 기기는 반도체 재료의 정밀 특성 평가를 위해 설계되었습니다. 캐리어 농도, 이동도, 비저항 및 홀 계수 등의 주요 전기 매개변수를 정확하게 측정합니다. 이러한 매개변수는 반도체의 전기 특성을 평가하고 관리하는 데 필수적이므로 CMT-60은 반도체 소자 개발에서 연구와 품질 관리 모두를 위한 강력한 도구입니다.

2. 주요 특징

  • 캐리어 농도, 이동도, 비저항 및 홀 계수의 정확한 측정
  • 반도체 전기 특성 분석용 종합 시스템
  • 연구 실험실 및 산업 응용 모두를 위한 첨단 홀 효과 시험 플랫폼
  • 정전류원, 마이크로볼트미터 및 스위칭 릴레이 시스템의 원활한 통합
  • 수동 배선 감소 및 실험 조작 간소화

3. 기술 사양

물리 매개변수캐리어 농도10³cm⁻³ - 10²³cm⁻³
이동도0 .1 cm²/ volt*sec - 10⁸cm²/ volt*sec
비저항 범위10⁻⁷ Ohm*cm - 10¹² Ohm*cm
홀 전압1 uV - 3V
홀 계수10⁻⁵ - 10²⁷cm³/ C
시험 가능한 재료 유형반도체 재료SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 및 페라이트 재료 등.
저저항 재료그래핀, 금속, 투명 산화물, 약자성 반도체 재료, TMR 재료 등
고저항 재료반절연성 GaAs, GaN, CdTe 등
재료의 전도성 입자재료의 P형 및 N형 시험
자기장 환경자석 유형가변 전자석
자기장 크기자극 면 직경 50mm; 1.22T@10mm 간극, 0.74T@20mm 간극, 0.51T@30mm 간극
균일 영역1%
선택 사양 자기 환경고객 요구에 따라 해당 자기 규모의 전자석을 맞춤 제작할 수 있습니다
전기 파라미터전류원50.00nA- 50.00mA
전류원 분해능0.0001uA
측정 전압0 ~ ±3V
전압 측정 분해능0.0001 mV
온도 환경80K-500K(온도 제어 정밀도:0.1K)
기타 액세서리차광외부 장착 차광 부품이 시험 재료를 더 안정적으로 유지
시료 크기최대 15mm * 15mm
박스 캐비닛600*600*1000mm
시험편중국과학원 반도체연구소의 홀 효과 표준 시험 시료 및 데이터: 1세트(GaAs, ITO)
오믹 접촉 형성전기 인두, 인듐 조각, 납땜 재료, 에나멜선 등
시험 시작 후 사람의 조작 없이 원버튼 자동 측정 가능
소프트웨어는 I-V 곡선 및 BV 곡선을 수행할 수 있습니다
소프트웨어에서 자동 온도 측정 설정
실험 결과를 측정하고 데이터는 소프트웨어에 임시 저장됩니다.
장기 저장이 필요한 경우 데이터를 EXCEL 표로 내보내 이후 데이터 처리를 편리하게 할 수 있습니다.
중국과학원 반도체연구소의 홀 효과 표준 시험 시료 및 데이터 제공: 1세트

4. 시험 가능한 시료 및 응용

5. 시스템 구성

CMT-60 시스템은 이 계측 플랫폼을 위해 특별히 개발된 CMT-320 홀 효과 측정기를 탑재하고 있습니다.

  • 정전류원, 고정밀 6½자리 마이크로볼트미터 및 홀 측정 스위칭 릴레이 통합
  • 실험 구성 및 수동 연결의 복잡성을 크게 감소
  • CMT-320은 정전류원 또는 마이크로볼트미터로 독립적으로 사용할 수도 있어 다양한 시험 요구에 맞는 다목적 기능을 제공합니다

6. 소프트웨어 기능

시스템 소프트웨어는 자동 데이터 수집 및 분석을 제공하며 다음 매개변수를 지원합니다:

  • 벌크 캐리어 농도
  • 표면 캐리어 농도
  • 이동도
  • 비저항
  • 홀 계수
  • 자기저항

소프트웨어는 실험 결과를 자동 계산하여 정확도를 보장하고 작업 효율을 높입니다.

가격 및 공급 가능 여부

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