자동 홀 효과 측정 시스템
마이크로 프로브의 정밀도와 HDTV 현미경을 활용하여 캐리어 농도, 이동도, 비저항 및 홀 계수를 측정하는 자동 홀 효과 시스템입니다.
제품 보기CMT-60 소형 홀 효과 측정 기기는 반도체 재료의 정밀 특성 평가를 위해 설계되었습니다. 캐리어 농도, 이동도, 비저항 및 홀 계수 등의 주요 전기 매개변수를 정확하게 측정합니다. 이러한 매개변수는 반도체의 전기 특성을 평가하고 관리하는 데 필수적이므로 CMT-60은 반도체 소자 개발에서 연구와 품질 관리 모두를 위한 강력한 도구입니다.
| 물리 매개변수 | 캐리어 농도 | 10³cm⁻³ - 10²³cm⁻³ |
| 이동도 | 0 .1 cm²/ volt*sec - 10⁸cm²/ volt*sec | |
| 비저항 범위 | 10⁻⁷ Ohm*cm - 10¹² Ohm*cm | |
| 홀 전압 | 1 uV - 3V | |
| 홀 계수 | 10⁻⁵ - 10²⁷cm³/ C | |
| 시험 가능한 재료 유형 | 반도체 재료 | SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 및 페라이트 재료 등. |
| 저저항 재료 | 그래핀, 금속, 투명 산화물, 약자성 반도체 재료, TMR 재료 등 | |
| 고저항 재료 | 반절연성 GaAs, GaN, CdTe 등 | |
| 재료의 전도성 입자 | 재료의 P형 및 N형 시험 | |
| 자기장 환경 | 자석 유형 | 가변 전자석 |
| 자기장 크기 | 자극 면 직경 50mm; 1.22T@10mm 간극, 0.74T@20mm 간극, 0.51T@30mm 간극 | |
| 균일 영역 | 1% | |
| 선택 사양 자기 환경 | 고객 요구에 따라 해당 자기 규모의 전자석을 맞춤 제작할 수 있습니다 | |
| 전기 파라미터 | 전류원 | 50.00nA- 50.00mA |
| 전류원 분해능 | 0.0001uA | |
| 측정 전압 | 0 ~ ±3V | |
| 전압 측정 분해능 | 0.0001 mV | |
| 온도 환경 | 80K-500K(온도 제어 정밀도:0.1K) | |
| 기타 액세서리 | 차광 | 외부 장착 차광 부품이 시험 재료를 더 안정적으로 유지 |
| 시료 크기 | 최대 15mm * 15mm | |
| 박스 캐비닛 | 600*600*1000mm | |
| 시험편 | 중국과학원 반도체연구소의 홀 효과 표준 시험 시료 및 데이터: 1세트(GaAs, ITO) | |
| 오믹 접촉 형성 | 전기 인두, 인듐 조각, 납땜 재료, 에나멜선 등 | |
| 시험 시작 후 사람의 조작 없이 원버튼 자동 측정 가능 | ||
| 소프트웨어는 I-V 곡선 및 BV 곡선을 수행할 수 있습니다 | ||
| 소프트웨어에서 자동 온도 측정 설정 | ||
| 실험 결과를 측정하고 데이터는 소프트웨어에 임시 저장됩니다. 장기 저장이 필요한 경우 데이터를 EXCEL 표로 내보내 이후 데이터 처리를 편리하게 할 수 있습니다. | ||
| 중국과학원 반도체연구소의 홀 효과 표준 시험 시료 및 데이터 제공: 1세트 | ||

CMT-60 시스템은 이 계측 플랫폼을 위해 특별히 개발된 CMT-320 홀 효과 측정기를 탑재하고 있습니다.
시스템 소프트웨어는 자동 데이터 수집 및 분석을 제공하며 다음 매개변수를 지원합니다:
소프트웨어는 실험 결과를 자동 계산하여 정확도를 보장하고 작업 효율을 높입니다.
가격 및 공급 가능 여부
시료, 측정 범위, 정확도 및 작동 조건을 알려주세요. 필요 수량과 배송지를 알려주세요.
견적 요청 ↗