Sistema de ensayo del efecto Hall a alta y baja temperatura CMT-1000T

El sistema de prueba del efecto Hall a dos temperaturas CMT-1000T es una plataforma totalmente integrada para la caracterización avanzada de semiconductores. Combina instrumentos eléctricos de alta precisión, electroimanes, sistemas de control de temperatura y software inteligente para medir parámetros clave, como la concentración de portadores, la movilidad, la resistividad y el coeficiente Hall.

Con adquisición de datos y trazado de curvas automatizados, el sistema simplifica procedimientos experimentales complejos y garantiza precisión, siendo una herramienta indispensable para investigar semiconductores y evaluar propiedades de materiales.

• CMT-320 Effector integrado: fuente de corriente constante, microvoltímetro de 6½ dígitos y relé de conmutación para mediciones Hall
• Permite medir la concentración de portadores, la movilidad, la resistividad y el coeficiente Hall
• Cálculo automatizado de resultados experimentales, incluidos: concentración de portadores volumétrica y de hoja, movilidad Hall y coeficiente Hall, resistividad y magnetorresistencia
• Amplia variedad de materiales ensayables: semiconductores, metales, óxidos, grafeno y compuestos de alta resistencia
• Mediciones de curvas I-V e I-R bajo campos magnéticos y temperaturas variables
• Ensayos totalmente automatizados con una tecla y capacidad de medición continua
• Campo estable a largo plazo con control de uniformidad

• Materiales semiconductores: SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe, materiales de ferrita
• Materiales de baja impedancia: grafeno, metales, óxidos transparentes, semiconductores débilmente magnéticos y materiales TMR
• Materiales de alta resistencia: GaAs semi aislante, GaN, CdTe

• Cálculo automático de parámetros Hall y resistividad
• Trazado en tiempo real de curvas I-V, I-R, R-T y R-H
• Medición continua a temperatura o campo magnético fijos
• Funciones de exportación de datos para análisis e informes posteriores

• Electroimán de alta precisión. Diámetro de polos: 100 mm. Campo máximo: 20,000 Gs (entrehierro de 10 mm), 13,000 Gs (20 mm), 10,000 Gs (30 mm). Área uniforme: diámetro de 10 mm con separación de 60 mm, uniformidad ±1%. Peso: 210 kg (con soporte y ruedas)
• Fuente bipolar de corriente constante de alta precisión Salida: ±10 A / ±80 V, 800 W Operación en cuatro cuadrantes para cargas inductivas Cruce por cero sin conmutación Estabilidad: ±25 ppm/h (estándar), ±5 ppm/h (alta estabilidad) Resolución: 20-bit (p. ej., 0.03 mA a 15 A)
• Gaussímetro de alta precisión Exactitud: ±0.30% de la lectura Rango: 0–3 T, resolución: 0.01 mT Espesor de sonda: 1.0 mm, longitud: 100 mm Interfaz RS-232, sonda GP3 incluida Portasondas de aluminio no magnético, ajustable 5–70 mm
• Termostato de alta y baja temperatura Intervalo: 80 K – 470 K Controlador TESTIK301 (65 K – 600 K) Bomba de vacío K25
• Fuente de corriente constante y mesa de ensayos. Intervalo de corriente: ±50 nA – ±50 mA, resolución 0.1 nA. Intervalo de tensión: 0.1 μV – 30 V, exactitud 0.01%. Tarjeta integrada de conversión de matriz de ensayos. Kit de contactos óhmicos (personalizable según el material)