CMT-1000T 고온·저온 홀 효과 시험 시스템

Name: CMT-1000T 고온·저온 홀 효과 시험 시스템
Brand: Vectomag

CMT-1000T는 자석, 가우스미터, 듀어 및 정밀 온도 제어를 통합하여 고온과 저온에서 홀 효과 시험을 지원합니다.

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CMT-1000T Dual-Temperature Hall Effect Test System

1. 제품 개요

CMT-1000T 이중 온도 홀 효과 시험 시스템 은 첨단 반도체 특성 평가를 위한 완전 통합형 플랫폼입니다. 고정밀 전기 계측기, 전자석, 온도 제어 시스템 및 지능형 소프트웨어를 결합하여 캐리어 농도, 이동도, 비저항 및 홀 계수와 같은 주요 매개변수를 측정합니다.

자동 데이터 수집과 곡선 표시로 복잡한 실험 절차를 간소화하고 정확도를 보장하여 반도체 연구와 재료 특성 평가에 필수적인 도구를 제공합니다.

2. 주요 특징

통합 CMT-320 이펙터: 홀 측정용 정전류원, 6½자리 마이크로볼트미터 및 전환 릴레이
캐리어 농도, 이동도, 비저항 및 홀 계수 측정 가능
실험 결과 자동 계산: 벌크 및 시트 캐리어 농도, 홀 이동도 및 홀 계수, 비저항 및 자기저항
광범위한 시험 가능 재료: 반도체, 금속, 산화물, 그래핀 및 고저항 화합물
변화하는 자기장과 온도에서의 I-V 및 I-R 곡선 측정
연속 측정 기능을 갖춘 원키 완전 자동 시험
균일도 제어를 갖춘 장기 안정 자기장

3. 기술 사양

자기장: 2T (10 mm 자극 간극), 1T (30 mm 자극 간극)
시료 전류: 0.05 μA – 50 mA, 조절 가능(0.1 nA 분해능)
측정 전압: 0.1 μV – 30 V
비저항 범위: 1×10⁻⁷ – 1×10¹² Ω·cm
저항 범위: 10 mΩ – 6 MΩ
캐리어 농도: 10³ – 10²³ cm⁻³
이동도: 0.1 – 1×10⁸ cm²/V·s
온도 범위: 77 K – 470 K, 조절 분해능 0.1 K
최소 분해능: 0.1 GS
자동 측정: 온도에 따른 홀 계수 및 캐리어 농도 곡선
곡선 출력: I-V, I-R, R-T 및 자기저항

4. 시험 가능한 시료 및 응용

반도체 재료: SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe, 페라이트 재료
저임피던스 재료: 그래핀, 금속, 투명 산화물, 약자성 반도체, TMR 재료
고저항 재료: 반절연성 GaAs, GaN, CdTe

6. 소프트웨어 기능

홀 파라미터 및 비저항 자동 계산
I-V, I-R, R-T 및 R-H 곡선의 실시간 표시
고정 온도 또는 자기장 조건에서 연속 측정 가능
추가 분석 및 보고를 위한 데이터 내보내기 기능

주요 구성 요소

고정밀 전자석. 자극 직경: 100 mm. 최대 자기장: 20,000 Gs (10 mm 간극), 13,000 Gs (20 mm 간극), 10,000 Gs (30 mm 간극). 균일 영역: 60 mm 간격에서 직경 10 mm, ±1% 균일성. 중량: 210 kg (브래킷 및 바퀴 포함)
고정밀 양극성 정전류 전원 공급기 출력: ±10 A / ±80 V, 800 W 유도성 부하용 4사분면 작동 전환 없는 영점 통과 안정성: ±25 ppm/h (표준), ±5 ppm/h (고안정) 분해능: 20-bit (예: 15 A에서 0.03 mA)
고정밀 가우스미터 정확도: 판독값의 ±0.30% 범위: 0–3 T, 분해능: 0.01 mT 프로브 두께: 1.0 mm, 길이: 100 mm RS-232 인터페이스, GP3 프로브 포함 비자성 알루미늄 프로브 홀더, 5–70 mm 조절 가능
고온·저온 항온 장치 범위: 80 K – 470 K TESTIK301 제어기(65 K – 600 K) K25 진공 펌프
정전류원 및 시험대. 전류 범위: ±50 nA – ±50 mA, 분해능 0.1 nA. 전압 범위: 0.1 μV – 30 V, 정확도 0.01%. 내장 시험 매트릭스 변환 카드. 오믹 접촉 키트 (재료별 맞춤 구성 가능)