Система измерения эффекта Холла CMT-70

Name: Система измерения эффекта Холла CMT-70
Brand: Vectomag

Прецизионная система измерения подвижности носителей, удельного сопротивления и коэффициента Холла для исследования полупроводников и анализа материалов.

Запросить предложение ↗ Посмотреть характеристики ↓

Введение в продукт

Система измерения эффекта Холла CMT-70 — высокоточная испытательная платформа для точного измерения свойств полупроводниковых материалов. Система объединяет следующие основные компоненты:

Электромагнит и его источник питания
Высокостабильный источник постоянного тока
Прецизионный вольтметр
Высокоскоростная матричная коммутационная плата
Держатель образца для эффекта Холла и эталонный образец
Специализированное программное обеспечение управления и анализа

В системе используется новейший прецизионный источник-измеритель KEITHLEY в сочетании с матричной платой с низкой задержкой и широкой полосой пропускания. Оптимизированная конфигурация значительно расширяет диапазон задаваемого тока и повышает точность измерения напряжения Холла. Благодаря широкому диапазону подачи тока и гибким возможностям измерения напряжения CMT-70 отвечает требованиям большинства задач оценки полупроводниковых устройств.

Автоматизированное программное обеспечение эффективно рассчитывает и выводит важнейшие электрические параметры, включая:

Объемная концентрация носителей
Поверхностная концентрация носителей
Подвижность
Удельное сопротивление
Коэффициент Холла
Магнитосопротивление

Основные особенности

Высокая точность измерений: источник-измеритель KEITHLEY с высокоскоростной матричной коммутацией обеспечивает стабильный ток и точное обнаружение напряжения.
Широкий диапазон испытаний: охватывает различные полупроводниковые материалы и типы устройств, от тонких плёнок до объёмных образцов.
Автоматизированный анализ данных: программный расчёт результатов минимизирует ручные операции и снижает вероятность ошибок.
Гибкая конфигурация: поддерживает различные датчики и экспериментальные установки для измерения эффекта Холла и удельного сопротивления.
Удобный программный интерфейс: простая панель управления с понятной настройкой параметров, мониторингом в реальном времени и экспортом данных.

Типичные области применения

Исследование и разработка полупроводниковых материалов
Характеризация тонких плёнок
Испытания характеристик электронных устройств
Исследования магнитосопротивления и подвижности

Примечание: Система измерения эффекта Холла CMT-70 подходит для университетских лабораторий, научно-исследовательских учреждений и промышленных подразделений НИОКР. По запросу доступны индивидуальные конфигурации и модернизация системы.

Испытуемые образцы системы HMS:

Параметры системы измерения эффекта Холла CMT-70:

Физические параметры	Концентрация носителей	10³cm⁻³ - 10²³cm⁻³
	Подвижность	0 .1 cm²/ voltsec - 10⁸cm²/ voltsec
	Диапазон удельного сопротивления	10⁻⁷ Ohmcm - 10¹² Ohmcm
	Напряжение Холла	1 uV - 3V
	Коэффициент Холла	10⁻⁵ - 10²⁷cm³/ C
Типы материалов для испытаний	Полупроводниковый материал	SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe и ферритовые материалы и др.
	материал с низким сопротивлением	Графен, металлы, прозрачные оксиды, слабомагнитные полупроводниковые материалы, материалы TMR и т. д.
	высокоомный материал	Полуизолирующие GaAs, GaN, CdTe и др.
	Проводящие частицы материалов	Испытания материалов типа P и типа N
Среда магнитного поля	Тип магнита	Регулируемый электромагнит
	Величина магнитного поля	1070mT (расстояние между полюсами 10mm)
		687mT (расстояние между полюсами 20mm)
		500mT (расстояние между полюсами 30mm)
		378mT (расстояние между полюсами 40mm)
		293mT (расстояние между полюсами 50mm)
	Однородная область	1%
	Опциональная магнитная среда	Электромагнит соответствующего магнитного размера может быть изготовлен по потребностям заказчика
Электрические параметры	Источник тока	±0.1nA- ±1000mA
	Разрешение источника тока	0.001uA
	Измеряемое напряжение	±10nV ~ ±200V
	Разрешение измерения напряжения	0.0001 mV
Другие принадлежности	Светозащита	Внешние светозащитные элементы для повышения стабильности испытуемого материала
	Размер образца	Максимум 30mm * 30mm
	Корпус-шкаф	6006001000mm
	Испытуемый образец	Стандартные образцы и данные испытаний эффекта Холла Института полупроводников Китайской академии наук: 1 комплект
	Испытуемый образец	(Si, Ge, GaAs, lnSb)
	Создание омических контактов	Электрический паяльник, пластинка индия, припой, эмалированный провод и др.
Автоматическое измерение одной кнопкой без вмешательства оператора после начала испытания
ПО позволяет работать с кривыми I-V и BV
Настройка автоматического измерения температуры в ПО
Результаты экспериментов измеряются, а данные временно сохраняются в ПО. Для длительного хранения их можно экспортировать в таблицу EXCEL, чтобы упростить дальнейшую обработку.
Предоставляются стандартные образцы и данные измерения эффекта Холла Института полупроводников Китайской академии наук: 1 комплект