Sistema automatizado de medición del efecto Hall
Este sistema automatizado de efecto Hall mide concentración de portadores, movilidad, resistividad y coeficiente Hall con precisión de microsonda y microscopía HDTV.
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Sistema de precisión para medir la movilidad de portadores, la resistividad y el coeficiente Hall en investigación de semiconductores y análisis de materiales.
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El sistema de medición del efecto Hall CMT-70 es una plataforma de pruebas de alta precisión diseñada para medir con exactitud las propiedades de los materiales semiconductores. El sistema integra componentes clave como:
Este sistema utiliza el último medidor de fuente de precisión KEITHLEY, combinado con una tarjeta matricial de baja latencia y alto ancho de banda. La configuración optimizada mejora significativamente tanto el rango de suministro de corriente como la precisión de las mediciones de tensión Hall. Con un amplio rango de suministro de corriente y una capacidad flexible de prueba de voltaje, el CMT-70 satisface los requisitos de la mayoría de las evaluaciones de dispositivos semiconductores.
El software automatizado calcula y genera con alta eficiencia parámetros eléctricos críticos, entre ellos:
Nota: El sistema de medición del efecto Hall CMT-70 es adecuado para laboratorios universitarios, instituciones de investigación y entornos industriales de I+D. Se ofrecen configuraciones personalizadas y actualizaciones del sistema bajo solicitud.

| Parámetros físicos | Concentración de portadores | 10³cm⁻³ - 10²³cm⁻³ |
| Movilidad | 0 .1 cm²/ volt*sec - 10⁸cm²/ volt*sec | |
| Rango de resistividad | 10⁻⁷ Ohm*cm - 10¹² Ohm*cm | |
| Tensión Hall | 1 uV - 3V | |
| Coeficiente Hall | 10⁻⁵ - 10²⁷cm³/ C | |
| Tipos de materiales que se pueden ensayar | Material semiconductor | SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe y materiales de ferrita, etc. |
| material de baja resistencia | Grafeno, metales, óxidos transparentes, materiales semiconductores débilmente magnéticos, materiales TMR, etc. | |
| material de alta resistencia | GaAs, GaN, CdTe, etc., semi aislantes | |
| Partículas conductoras de materiales | Ensayos de materiales de tipo P y tipo N | |
| Entorno de campo magnético | Tipo de imán | Electroimán variable |
| Magnitud del campo magnético | 1070mT (separación de polos de 10mm) | |
| 687mT (separación de polos de 20mm) | ||
| 500mT (la separación entre polos es de 30mm) | ||
| 378mT (distancia entre polos de 40mm) | ||
| 293mT (separación de polos de 50mm) | ||
| Área uniforme | 1% | |
| Entorno magnético opcional | El electroimán con el tamaño magnético pertinente puede personalizarse según las necesidades del cliente | |
| Parámetros eléctricos | Fuente de corriente | ±0.1nA- ±1000mA |
| Resolución de la fuente de corriente | 0.001uA | |
| Tensión de medición | ±10nV ~ ±200V | |
| Resolución de medición de tensión | 0.0001 mV | |
| Otros accesorios | Protección contra la luz | Elementos externos de protección contra la luz para estabilizar el material de ensayo |
| Tamaño de la muestra | Máximo 30mm * 30mm | |
| Armario de caja | 600*600*1000mm | |
| Probeta | Muestras estándar y datos de ensayo del efecto Hall del Instituto de Semiconductores de la Academia China de Ciencias: 1 juego | |
| (Si, Ge, GaAs, lnSb) | ||
| Creación de contactos óhmicos | Soldador eléctrico, lámina de indio, soldadura, hilo esmaltado, etc. | |
| Medición automática con un solo botón sin intervención manual una vez iniciado el ensayo | ||
| El software permite realizar curvas I-V y BV | ||
| Configuración en software de la medición automática de temperatura | ||
| Se miden los resultados experimentales y los datos se guardan temporalmente en el software. Si se necesita almacenamiento a largo plazo, pueden exportarse a una tabla EXCEL para facilitar el procesamiento posterior. | ||
| Se proporcionan muestras y datos estándar de ensayo del efecto Hall del Instituto de Semiconductores de la Academia China de Ciencias: 1 conjunto | ||
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