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Sistema de medición del efecto Hall CMT-70

Sistema de precisión para medir la movilidad de portadores, la resistividad y el coeficiente Hall en investigación de semiconductores y análisis de materiales.

CMT-70 Hall Effect Measurement System Ver imagen completa

Introducción al producto

El sistema de medición del efecto Hall CMT-70 es una plataforma de pruebas de alta precisión diseñada para medir con exactitud las propiedades de los materiales semiconductores. El sistema integra componentes clave como:

  • Electroimán y fuente de alimentación del electroimán
  • Fuente de corriente constante de alta estabilidad
  • Voltímetro de precisión
  • Tarjeta de conmutación matricial de alta velocidad
  • Portamuestras de efecto Hall y muestra de referencia
  • Software específico de control y análisis

Este sistema utiliza el último medidor de fuente de precisión KEITHLEY, combinado con una tarjeta matricial de baja latencia y alto ancho de banda. La configuración optimizada mejora significativamente tanto el rango de suministro de corriente como la precisión de las mediciones de tensión Hall. Con un amplio rango de suministro de corriente y una capacidad flexible de prueba de voltaje, el CMT-70 satisface los requisitos de la mayoría de las evaluaciones de dispositivos semiconductores.

El software automatizado calcula y genera con alta eficiencia parámetros eléctricos críticos, entre ellos:

  • Concentración volumétrica de portadores
  • Concentración superficial de portadores
  • Movilidad
  • Resistividad
  • Coeficiente Hall
  • Magnetorresistencia

Características principales

  • Alta exactitud: el medidor de fuente KEITHLEY combinado con conmutación matricial rápida garantiza corriente estable y detección precisa de tensión.
  • Amplio intervalo de ensayo: abarca una gran variedad de materiales semiconductores y dispositivos, desde películas delgadas hasta muestras masivas.
  • Análisis automatizado de datos: el cálculo de resultados por software minimiza las operaciones manuales y reduce posibles errores.
  • Configuración flexible: admite múltiples tipos de sensores y montajes experimentales para medir el efecto Hall y la resistividad.
  • Interfaz de software intuitiva: panel de control fácil de manejar con ajustes claros de parámetros, supervisión en tiempo real y opciones de exportación de datos.

Aplicaciones típicas

  • Investigación y desarrollo de materiales semiconductores
  • Caracterización de películas delgadas
  • Ensayos de rendimiento de dispositivos electrónicos
  • Estudios de magnetorresistencia y movilidad

Nota: El sistema de medición del efecto Hall CMT-70 es adecuado para laboratorios universitarios, instituciones de investigación y entornos industriales de I+D. Se ofrecen configuraciones personalizadas y actualizaciones del sistema bajo solicitud.

Muestras que puede ensayar el sistema HMS:

Parámetros del sistema de medición del efecto Hall CMT-70:

Parámetros físicosConcentración de portadores10³cm⁻³ - 10²³cm⁻³
Movilidad0 .1 cm²/ volt*sec - 10⁸cm²/ volt*sec
Rango de resistividad10⁻⁷ Ohm*cm - 10¹² Ohm*cm
Tensión Hall1 uV - 3V
Coeficiente Hall10⁻⁵ - 10²⁷cm³/ C
Tipos de materiales que se pueden ensayarMaterial semiconductorSiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe y materiales de ferrita, etc.
material de baja resistenciaGrafeno, metales, óxidos transparentes, materiales semiconductores débilmente magnéticos, materiales TMR, etc.
material de alta resistenciaGaAs, GaN, CdTe, etc., semi aislantes
Partículas conductoras de materialesEnsayos de materiales de tipo P y tipo N
Entorno de campo magnéticoTipo de imánElectroimán variable
Magnitud del campo magnético1070mT (separación de polos de 10mm)
687mT (separación de polos de 20mm)
500mT (la separación entre polos es de 30mm)
378mT (distancia entre polos de 40mm)
293mT (separación de polos de 50mm)
Área uniforme1%
Entorno magnético opcionalEl electroimán con el tamaño magnético pertinente puede personalizarse según las necesidades del cliente
Parámetros eléctricosFuente de corriente±0.1nA- ±1000mA
Resolución de la fuente de corriente0.001uA
Tensión de medición±10nV ~ ±200V
Resolución de medición de tensión0.0001 mV
Otros accesoriosProtección contra la luzElementos externos de protección contra la luz para estabilizar el material de ensayo
Tamaño de la muestraMáximo 30mm * 30mm
Armario de caja600*600*1000mm
ProbetaMuestras estándar y datos de ensayo del efecto Hall del Instituto de Semiconductores de la Academia China de Ciencias: 1 juego
(Si, Ge, GaAs, lnSb)
Creación de contactos óhmicosSoldador eléctrico, lámina de indio, soldadura, hilo esmaltado, etc.
Medición automática con un solo botón sin intervención manual una vez iniciado el ensayo
El software permite realizar curvas I-V y BV
Configuración en software de la medición automática de temperatura
Se miden los resultados experimentales y los datos se guardan temporalmente en el software. Si se necesita almacenamiento a largo plazo, pueden exportarse a una tabla EXCEL para facilitar el procesamiento posterior.
Se proporcionan muestras y datos estándar de ensayo del efecto Hall del Instituto de Semiconductores de la Academia China de Ciencias: 1 conjunto

Precio y disponibilidad

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