자동 홀 효과 측정 시스템
마이크로 프로브의 정밀도와 HDTV 현미경을 활용하여 캐리어 농도, 이동도, 비저항 및 홀 계수를 측정하는 자동 홀 효과 시스템입니다.
제품 보기CMT-70 홀 효과 측정 시스템은 반도체 재료 특성을 정확하게 측정하도록 설계된 고정밀 시험 플랫폼입니다. 시스템에는 다음과 같은 주요 구성 요소가 통합되어 있습니다:
이 시스템은 최신 KEITHLEY 정밀 소스미터와 저지연, 고대역폭 매트릭스 카드를 결합합니다. 최적화된 구성은 전류 공급 범위와 홀 전압 측정 정확도를 크게 향상시킵니다. 넓은 전류 공급 범위와 유연한 전압 시험 기능을 갖춘 CMT-70은 대부분의 반도체 소자 평가 요구를 충족합니다.
자동화 소프트웨어는 다음을 포함한 주요 전기 매개변수를 효율적으로 계산하고 출력합니다:
참고: CMT-70 홀 효과 측정 시스템은 대학 연구실, 연구 기관 및 산업 연구 개발 환경에 적합합니다. 요청에 따라 맞춤 구성과 시스템 업그레이드가 가능합니다.

| 물리 매개변수 | 캐리어 농도 | 10³cm⁻³ - 10²³cm⁻³ |
| 이동도 | 0 .1 cm²/ volt*sec - 10⁸cm²/ volt*sec | |
| 비저항 범위 | 10⁻⁷ Ohm*cm - 10¹² Ohm*cm | |
| 홀 전압 | 1 uV - 3V | |
| 홀 계수 | 10⁻⁵ - 10²⁷cm³/ C | |
| 시험 가능한 재료 유형 | 반도체 재료 | SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 및 페라이트 재료 등. |
| 저저항 재료 | 그래핀, 금속, 투명 산화물, 약자성 반도체 재료, TMR 재료 등 | |
| 고저항 재료 | 반절연성 GaAs, GaN, CdTe 등 | |
| 재료의 전도성 입자 | 재료의 P형 및 N형 시험 | |
| 자기장 환경 | 자석 유형 | 가변 전자석 |
| 자기장 크기 | 1070mT(자극 간격 10mm) | |
| 687mT(자극 간격 20mm) | ||
| 500mT (자극 간격 30mm) | ||
| 378mT (자극 간격 40mm) | ||
| 293mT(자극 간격 50mm) | ||
| 균일 영역 | 1% | |
| 선택 사양 자기 환경 | 고객 요구에 따라 해당 자기 규모의 전자석을 맞춤 제작할 수 있습니다 | |
| 전기 파라미터 | 전류원 | ±0.1nA- ±1000mA |
| 전류원 분해능 | 0.001uA | |
| 측정 전압 | ±10nV ~ ±200V | |
| 전압 측정 분해능 | 0.0001 mV | |
| 기타 액세서리 | 차광 | 외부 설치 차광 부품으로 시험 재료를 더 안정적으로 유지 |
| 시료 크기 | 최대 30mm * 30mm | |
| 박스 캐비닛 | 600*600*1000mm | |
| 시험편 | 중국과학원 반도체연구소의 홀 효과 표준 시험 시료 및 데이터: 1세트 | |
| (Si, Ge, GaAs, lnSb) | ||
| 오믹 접촉 형성 | 전기 인두, 인듐 조각, 납땜 재료, 에나멜선 등 | |
| 시험 시작 후 사람의 조작 없이 원버튼 자동 측정 가능 | ||
| 소프트웨어는 I-V 곡선 및 BV 곡선을 수행할 수 있습니다 | ||
| 소프트웨어에서 자동 온도 측정 설정 | ||
| 실험 결과를 측정하고 데이터를 소프트웨어에 임시 저장합니다. 장기 저장이 필요한 경우 EXCEL 표로 내보내 이후 데이터 처리를 편리하게 할 수 있습니다. | ||
| 중국과학원 반도체연구소의 홀 효과 표준 시험 시료 및 데이터 제공: 1세트 | ||
가격 및 공급 가능 여부
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