Estación de sondas de baja temperatura LNPS-80

La estación de sondas a baja temperatura LNPS-80 de Vectomag proporciona una plataforma fiable para mediciones no destructivas de tipo eléctrico, óptico y de microondas en materiales y dispositivos semiconductores.

Admite dispositivos de hasta 80 mm, por lo que resulta idónea para investigar materiales nanoelectrónicos, hilos cuánticos, puntos cuánticos y estructuras semiconductoras.

La LNPS-80 ofrece un control preciso de temperatura de 80 K a 425 K mediante refrigeración con nitrógeno líquido y una cámara con apantallamiento térmico que reduce la radiación de cuerpo negro y minimiza el consumo de LN2.

Su diseño modular permite configurar las sondas, las plataformas de muestras y los cables de medición según las necesidades de cada experimento, y admite mediciones de DC, RF y microondas.

• Cámara principal y plataforma base LNPS-80
• Brazos de sonda de precisión de cuatro ejes
• Portamuestras intercambiable (máx. 80 mm)
• Sensor de temperatura + calentador para control PID
• Dewar de nitrógeno líquido con línea de transferencia aislada
• Módulo de microscopio de gran aumento
• Cables de medición y pasamuros para ensayos DC / RF / microondas

• Refrigeración con nitrógeno líquido para un control rápido y estable
• Plataformas de muestras intercambiables para configuración flexible
• Rango de temperatura: 80 K – 425 K
• Estabilidad de temperatura: ≤ 50 mK
• Exactitud de posición de la sonda: 10 µm
• Cuatro brazos de sonda de precisión, cada uno con ajuste fino XYZ
• Tres sondas coaxiales DC + una sonda de microondas de 40 GHz
• Recorrido de la sonda: XY 25 mm / Z > 50 mm
• Microscopio óptico de gran aumento para alineación e imágenes precisas
• Las sondas de berilio / tungsteno minimizan la conducción térmica hacia la muestra

• Dispositivos semiconductores y circuitos integrados
• Materiales nanoelectrónicos / de puntos cuánticos / de hilos cuánticos
• MEMS y dispositivos superconductores
• Caracterización eléctrica y optoelectrónica en condiciones criogénicas
• Ensayos de parámetros DC, RF y de microondas

• Brazos de sonda DC y RF adicionales
• Cámara criogénica o ventana óptica para observación visual
• Conectores de alta frecuencia (> 40 GHz)
• Portamuestras personalizados para ensayos de obleas o chips
• Módulos de bombeo de vacío y control de presión

• Visualización de temperatura en tiempo real y registro de datos
• Control PID de estabilización de temperatura
• Curvas gráficas de enfriamiento y calentamiento para analizar datos
• Funciones de apagado automático y protección
• Exportación de datos en formato CSV / TXT