Dispositivo de caracterización del efecto Hall CMT-3000

El instrumento compacto de medición del efecto Hall CMT-60 integra hardware de precisión y software inteligente para proporcionar un análisis fiable de materiales semiconductores. Mide parámetros clave como la resistividad, el coeficiente Hall, la movilidad de los portadores y la concentración de portadores, ofreciendo una plataforma completa para la investigación de materiales y la caracterización de dispositivos.

El sistema contempla detalles a menudo olvidados, como la configuración de instrumentos eléctricos y el cableado de circuitos a temperatura ambiente y baja. Su diseño avanzado e interfaz fácil de usar permiten una configuración rápida y resultados muy precisos con CMT-60.

• Tarjetas de muestra enchufables para instalación y sustitución rápidas
• La configuración estándar permite ensayar dos muestras simultáneamente; ampliable a cuatro con dispositivos opcionales
• Amplio intervalo de medición de resistencia: 0.1 mΩ – 100 GΩ
• Múltiples mediciones Hall y de resistencia con distintas corrientes y campos magnéticos
• Recopilación automatizada de datos y trazado de curvas (I-V, R-T, R-H, magnetorresistencia)
• Campo estable con capacidad de suavizado en campo cero
• Gaussímetro de precisión integrado en la fuente del electroimán para control rápido del campo
• Opciones flexibles de baja temperatura que permiten mediciones del efecto Hall y resistencia a temperatura variable

El software específico admite:

• Medición automática del efecto Hall, resistividad y magnetorresistencia
• Cálculo en tiempo real de resistencia de hoja, coeficiente Hall, tipo de conducción, concentración de portadores y movilidad
• Trazado de curvas: los resultados I-V, R-T, R-H y de magnetorresistencia se muestran inmediatamente
• Exportación de datos e informes automáticos

El software específico admite:

• Medición automática del efecto Hall, resistividad y magnetorresistencia
• Cálculo en tiempo real de resistencia de hoja, coeficiente Hall, tipo de conducción, concentración de portadores y movilidad
• Trazado de curvas: los resultados I-V, R-T, R-H y de magnetorresistencia se muestran inmediatamente
• Exportación de datos e informes automáticos

Sistema de imán superconductor sin helio líquido, 1.6K～325K;
Opciones de termostato de nitrógeno líquido:

1. Termostato estándar de nitrógeno líquido, 80K～325K;
2. Termostato de nitrógeno líquido de alta temperatura, 80K～500K;

Opciones de refrigerador cíclico:

1. Sistema de refrigerador estándar de 4K, 4K～325K;
2. Refrigerador de 4K de alta temperatura, 4K～700K;
3. Sistema de refrigerador estándar de 10K, 10K～325K;
4. Refrigerador de alta temperatura de 10K, 10K～800K;
5. Sistema de refrigerador de tamaño reducido, 45K～325K.

• Semiconductores: Si, GaAs, InAs, InP, SiGe, InGaAs, AlGaAs, HgCdTe, etc.
• Materiales de baja impedancia: metales, óxidos transparentes, semiconductores débilmente magnéticos y materiales TMR.
• Materiales de alta impedancia: GaAs semi aislante, GaN, CdTe, etc.

• Tamaño de muestra Pequeña: 12 × 12 mm² Grande: 50 × 50 mm² Sonda: 1 × 1 mm² ~ 30 × 30 mm²
• Métodos de medición de muestras: muestras de efecto Hall: Si, GaAs, etc. Muestras de resistencia e I-V: método de 4 o 6 hilos