Измерение характеристик функциональных материалов
Атомно-силовой микроскоп для визуализации наноструктур
Система AFM получает 3D изображения наноструктур проводящих, полупроводящих и изоляционных материалов с разрешением 20 pm и автоматизированным управлением скани...
Посмотреть продукт