Система измерения заряда и разряда диэлектриков
Система оценивает поведение диэлектрических материалов при заряде и разряде в условиях высокого напряжения и подходит для исследований накопления энергии и конденсаторов.
Посмотреть продуктVectomag
Атомно-силовой микроскоп для визуализации наноструктур
Система AFM получает 3D изображения наноструктур проводящих, полупроводящих и изоляционных материалов с разрешением 20 pm и автоматизированным управлением сканированием.
Открыть изображение
Технический запрос
Обсудите ваши требования.
Свяжитесь с нами для уточнения характеристик и комплектации. Расскажите об образце, диапазоне измерений, точности и условиях работы.
Запросить характеристикиДругие продукты
Ознакомьтесь с ассортиментом.
Подберите приборы и системы для вашей лаборатории.
Система измерения диэлектрических свойств
Система измеряет диэлектрическую проницаемость, ёмкость и диэлектрические потери изоляционных материалов в широких диапазонах частот и температур, с дополнительными испытаниями про...
Посмотреть продукт
Платформа измерения электрических свойств
Платформа оценивает электрические свойства, включая сегнетоэлектричество, пьезоэлектричество, диэлектрические свойства и удельное сопротивление, при высоких и низких температурах.
Посмотреть продуктСтоимость и наличие
Запросите предложение на Атомно-силовой микроскоп для визуализации наноструктур.
Расскажите об образце, диапазоне измерений, точности и условиях работы. Укажите количество и место доставки.
Запросить предложение ↗