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ナノ構造イメージング用原子間力顕微鏡

20 pmの分解能と自動走査制御により、導電性、半導電性、絶縁性材料の3Dナノ構造画像を取得するAFMシステムです。

Atomic Force Microscope for Nanostructure Imaging 原寸画像を見る

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