Sistema de medición de carga y descarga de dieléctricos
Este sistema evalúa el comportamiento de carga y descarga de materiales dieléctricos a alta tensión, ideal para investigar almacenamiento de energía y condensadores.
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Microscopio de fuerza atómica para imágenes de nanoestructuras
Este sistema AFM captura imágenes 3D de nanoestructuras de materiales conductores, semiconductores y aislantes con resolución de 20 pm y control automatizado de escaneo.
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Sistema de medición de propiedades dieléctricas
Este sistema mide permitividad, capacitancia y pérdidas dieléctricas de materiales aislantes en amplios intervalos de frecuencia y temperatura, con ensayos opcionales de ruptura di...
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Plataforma de medición de propiedades eléctricas
Esta plataforma evalúa propiedades eléctricas como ferroelectricidad, piezoelectricidad, propiedades dieléctricas y resistividad a altas y bajas temperaturas.
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