Microscopio de fuerza atómica para imágenes de nanoestructuras
Este sistema AFM captura imágenes 3D de nanoestructuras de materiales conductores, semiconductores y aislantes con resolución de 20 pm y control automatizado de escaneo.
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Este sistema mide permitividad, capacitancia y pérdidas dieléctricas de materiales aislantes en amplios intervalos de frecuencia y temperatura, con ensayos opcionales de ruptura dieléctrica y TSDC.
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