Microscopio de fuerza atómica para imágenes de nanoestructuras
Este sistema AFM captura imágenes 3D de nanoestructuras de materiales conductores, semiconductores y aislantes con resolución de 20 pm y control automatizado de escaneo.
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Analizador de coeficientes piezoeléctricos
Este analizador mide con alta sensibilidad el coeficiente piezoeléctrico d33 de PZT y otros materiales, con excitación estable y control digital basado en FPGA para captar señales con precisión.
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Sistema de medición de carga y descarga de dieléctricos
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