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연구용 MOKE 히스테리시스 루프 시험기

면내 및 면외 히스테리시스 루프를 동시에 측정하는 연구용 MOKE 시스템으로, 자성 재료의 고정밀 분석에 적합합니다.

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선정 정보

온도 범위
4 K – 500 K(확장 옵션)

1. 제품 개요

연구용 MOKE 히스테리시스 루프 측정기 는 다음 대상의 자기 특성을 고정밀로 평가할 수 있습니다:

  • 강자성 재료
  • 인공 반강자성 구조
  • 2차원 재료
  • 마이크로전자 소자

면내 및 수직 자기장을 동시에 인가함으로써 시스템은 자기장 방향과 자화 성분의 임의 조합에 대한 히스테리시스 루프를 측정할 수 있습니다.

  • 커 회전 검출 정확도: 최대 0.3 mdeg(RMS)
  • 분해능: 단일 원자층의 자화를 검출할 수 있음
  • 시료 홀더: 전기·자기·광학 특성 평가를 위한 와이어 고정 설계 적용

이 시스템은 독자적으로 개발되었으며 높은 안정성과 뛰어난 확장성을 갖추고 맞춤 구성을 제공합니다. 유사 기기에 비해 더 큰 자기장과 더 높은 정밀도를 제공하며, 광경로를 변경하지 않고 면내 및 수직 방향의 루프 측정을 수행합니다.

면내 자기장 세기:
>1.0 T@8 mm 공극
>0.5 T@16 mm 공극

수직 자기장 강도:
>1.0 T@7 mm 공극
>0.5 T@16 mm 공극

2. 주요 특징

  • 다중 범위를 갖춘 가우스미터 통합 시료 홀더. 최대 자기장 분해능 < 0.02 mT. 수집한 자기장은 실제 시료 자기장을 충실하게 반영합니다.
  • 실시간 레이저 자동 정렬 기능을 갖춘 5축 시료 스테이지
  • 면내 및 수직 자기장 이중 작동이 가능한 4극 벡터 자석
  • 국소 측정을 위한 고집속 레이저 빔 스폿

최소 250 μm로 미세한 국소 자기 정보를 얻을 수 있습니다.


3. 기술 사양

3. 기술 사양
ParameterValue
면내 자기장 1.0 T
수직 자기장 1.0 T
커 각 검출 한계 0.3 mdeg (RMS)
온도 범위 4 K – 500 K(확장 옵션)
최대 시료 크기 15 mm × 15 mm
자기장 분해능 < 0.02 mT(가우스미터 통합 홀더 사용)

4. 시험 가능한 시료 및 응용

  • 수직 자기 이방성 박막을 위한 극 커 시험
  • 다층 박막 적층 구조(예: W/CoFeB/MgO/W)의 상온 커 시험
  • 변화하는 자기장 아래에서 자화 동역학을 고분해능으로 검출

극방향 자기장에서의 극 커 신호 @20 loops,0.1 Hz

종방향 자기장에서의 극 커 신호 @20 루프,0.1 Hz

5. 시스템 구성

  • 4극 벡터 자석(면내 및 수직 자기장)
  • 가우스미터 통합 시료 홀더
  • 5축 정밀 시료 스테이지
  • 집속 레이저 시스템을 갖춘 고정밀 광학 장치
  • 소프트웨어 기반 자동 정렬 및 데이터 수집

6. 소프트웨어 기능

  • 레이저 자동 정렬 기능을 갖춘 지능형 소프트웨어 플랫폼
  • 실시간 자기장 스캔 및 히스테리시스 루프 획득
  • 서로 다른 스캔 주기에서 신호 평균화를 통한 잡음 감소
  • 자동 데이터 저장 및 다양한 형식으로 내보내기

7. 주문 정보

모델: 연구용 MOKE 히스테리시스 루프 시험기
포함 구성품: 4극 자석, 통합 가우스미터 홀더, 레이저 광학계, 시료 스테이지, 제어 소프트웨어

가격 및 공급 가능 여부

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