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다기능 자기광학 커 이미징 시스템

재료와 스핀트로닉스 소자의 자화 상태 및 자구 변화를 높은 공간 정밀도로 실시간 시각화하는 시스템입니다.

Multifunctional Magneto - Optical Kerr Imaging System 원본 이미지 보기

선정 정보

온도 범위
4K – 873K

1. 제품 개요

다기능 자기광학 Kerr 이미징 시스템은 자체 설계한 광경로 구조를 기반으로 하며 Olympus와 Soleibo의 고품질 광전자 부품을 통합했습니다. 자성 재료와 스핀트로닉스 소자의 자구 이미징 및 동적 연구를 위해 설계되었습니다.다기능 프로브 스테이션원리도

2. 주요 특징

  • 수직 자기장(최대 1.8T), 면내 자기장(1.4T) 및 DC/HF 프로브를 갖춘 통합 다기능 프로브 스테이션.
  • 넓은 온도 제어 범위: 4K–873K로 경자성 재료의 이미징이 가능합니다.
  • 자기광학 이미징과 스핀 수송 시험의 결합.
  • μs 수준의 다중 신호(자기장, 전류, 마이크로파 등) 동기 제어.
  • 분해능 1 µm의 고정밀 레이저 변위 센서.
  • 배경 잡음 제거용 실시간 영상 감산.
  • 자동 진동 드리프트 보정.
  • 커 이미지 분석에 기반한 국소(220 nm) 또는 전체 히스테리시스 루프 스캔.

수직 이방성 자성 박막(두께 1 nm)의 자구 이미징 효과

벌크 영구자석(NdFeB) 표면의 자구

나노 박막 재료

규소강 블록 표면의 자구

3. 기술 사양

CoFeB(1.3nm)/W(0.2)/CoFeB(0.5) 박막의 미로형 자구

3. 기술 사양
ParameterValue
수직 자기장 최대 1.8 T
면내 자기장 1.4 T
온도 범위 4K – 873K
공간 분해능 최대 220 nm (100× 유침 대물렌즈)
최대 시야 1.2 mm × 1 mm(5× 대물렌즈)
이미징 기능 2 원자층 두께의 박막에서도 자기 변화 감지

4. 시험 가능한 시료 및 응용

  • 천연 자성 재료
  • 자성 반도체
  • 입자형 합금
  • 다층 자성 박막
  • 스핀트로닉스 소자

응용 분야:

  • 자성 재료의 품질 검사(결함, 손상, 구조적 건전성)
  • 동적 조건에서의 스핀트로닉스 소자 시험
  • 자구벽 동역학 및 스핀 수송 연구

자성 재료의 품질 검사

결함 위치 감지

스핀트로닉스 소자의 손상 검출

히스테리시스 루프 결과 분석

5. 시스템 구성

  • 면내 및 수직 자기장을 갖춘 다기능 프로브 스테이션
  • DC/HF 프로빙 시스템
  • 가변 온도 장치(4K–873K)
  • 광학 커 이미징 현미경
  • 신호 및 이미지 동기화를 위한 다기능 제어 시스템

7. 소프트웨어 기능

  • 실시간 이미지 차분 및 드리프트 보정
  • 스케일 바 자동 추가
  • 이미지 획득과 신호 동기화
  • Excel, Origin 및 일반 과학 소프트웨어와 호환되는 데이터 내보내기

6. 선택 사양 부속품

  • 이방성 자성 재료 분석용 벡터 코일 옵션
  • 홀 효과, I–V 및 MR 시험용 Keithley 6221 & 2182A 소스 미터
  • ST-FMR 및 2차 고조파 시험용 마이크로파 소스, 프로브 및 록인 증폭기

8. 주문 정보

모델: 다기능 자기광학 커 이미징 시스템
표준 구성 요소: 프로브 스테이션, 커 현미경, 제어 시스템, 소프트웨어 제품군
선택 액세서리: 벡터 코일, 마이크로파 발생원, 록인 증폭기

가격 및 공급 가능 여부

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